仪器设备-分析测试中心

03 环境扫描电子显微镜ESEM

生产厂家：荷兰FEI公司

纳米材料、复合材料、陶瓷材料、金属材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、电子材料、导体与非导体地矿、考古等表面微观形貌观察及成分分析。

主要用于各种材料的表面形貌观察和分析，目前已成为材料科学、生命科学研究中不可缺少的工具。新型环境扫描电镜实现了人们所追求的在自然状态下样品观察的目标。数字化、微机控制扫描电镜，完全取代模拟图像，多种记录方式，方便网上传输，并可用鼠标完成全部操作。

管理人：魏慧欣 027-87792451-103 分析测试中心E2-103

04 sirion场发射扫描电子显微镜 FSEM-1

生产厂家：荷兰FEI公司

广泛应用于物理、化学、生物、地学、矿物、金属、半导体、陶瓷、高分子、复合材料、纳米材料等领域的研究和产品检验。

可实现固体样品的微观形貌观察和微区能谱成分分析及线分布、面分布分析，可对晶体样品的晶粒取向和取向关系等进行分析，还可以获取的电压下薄样品的明/暗场扫描透射像。超高强度Schottky场发射灯丝 SE、TLD探测器CCD。

管理人：吴金金 027-87792451-103 分析测试中心E2-103

05 nova场发射扫描电子显微镜 FSEM-2

生产厂家：荷兰FEI公司

广泛应用于物理、化学、生物、地学、矿物、金属、半导体、陶瓷、高分子、复合材料、纳米材料等领域的研究和产品检验。

可实现固体样品的微观形貌观察和微区能谱成分分析及线分布、面分布分析；配备的背散射探头可获得样品的成分衬度图片；配备的低真空探头可对不导电样品进行形貌及成分分析，而不需要进行喷金处理。

管理人：葛立发 027-87792451-107 分析测试中心E2-107

06 Tecnai G2 20透射电子显微镜 TEM

生产厂家：荷兰FEI公司

广泛使用于材料、物理、化学、地质、地理、环境、生物、医学、冶金、陶瓷、半导体等学科及行业。

该仪器属于当今较先进的200kV分析电镜，可采用LaB6灯丝，具有较高的亮度和分辨率,能快速有效地采集和处理信号, 并将高分辨图像、明场/暗场图像、电子衍射和详细的微观分析有机的结合起来。配备有既可得到高分辨图像又可以保持高倾角( 最大40°)的S-TWIN物镜和机械稳定性优异、可精确控制样品的CompuStage样品台，还配有EDAX能谱系统，可以进行原位的元素成分分析。紧凑的结构、完美的电子光学系统，全自动的计算机控制，确保了仪器的长期稳定性。

管理人：卢照 027-87557452 分析测试中心E2-101

07 Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜 FTEM-1

生产厂家：荷兰FEI公司

广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域。

该仪器将各种透射电镜技术（包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等）进行方便灵活地有机组合，形成了强大的分析功能，从而在同类型仪器中独占鳌头。除具有200KV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300KV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。同时，该仪器使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。

管理人：赵健全 027-87792451-105 分析测试中心E2-105

19 Stemi 508体视显微镜3D

生产厂家：德国Carl Zeiss

应用于生物、材料、纤维、化工、医药、集成电路、电镜样品制备检验、工程失效分析等。

图像效果：彩色立体图像显示。专业数码摄像头500万有效物理像素,分辨率2560×1920；放大倍数：6.3× ～ 100×。各种定焦距和变焦距可选；记录装置：全数字化图像存储及输出；样品要求：表面平整、粗糙的样品，和含水、透明样品都可观察。

管理人：魏慧欣 027-87792451-103 分析测试中心F2-106

20 Axiovert 200MAT金相显微镜200MAT

生产厂家：德国 Carl Zeiss Light microscope公司

重要应用具有反光材料的使用上，用以鉴别和分析各种金属及合金的组织结构、形貌、夹杂、形态统计和分析、表面镀层质量、厚度、芯片的结构、渗透组织和深度等；清晰显示材料内部组织构造；应用于工厂或实验室进行材料质量鉴定、失效分析，原材料的检验或对材料处理后金相组织的研究分析；电镜样品制备检验，特别适合有色金属材料显微分析。

采用了先进国际标准的ICS无限远轴向及径向双重色差、校正光学系统和高精度的制造工艺，能提供高分辩率的图像。用以鉴别和分析各种金属及合金的组织结构，应用于工厂或实验室进行铸件质量鉴定，原材料的检验或对材料处理后金相组织的研究分析等工作。

管理人：葛立发 027-87792451-107 分析测试中心F2-106

34 SPM9700原子力显微镜 AFM

生产厂家：日本Shimadzu（岛津）公司

原子力显微镜广泛地应用于表面分析的各个领域,通过对表面形貌的分析、归纳、总结,以获得更深层次的信息。它可以用于研究金属、半导体和非金属类材料的表面形貌、表面重构、摩擦力，获得相界、分形结构和横向力等信息的空间三维图像。

将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。

管理人：严定策 027-87792451-106 分析测试中心E2-106

37 E500电子顺磁共振波谱仪EPR

生产厂家：英国Bruker公司

EPR的应用范围非常广泛，在化学方面，主要研究自由基反应动力学，金属有机化合物结构信息，催化机理等；在材料方面，主要应用于光催化材料的研究，新型磁性材料的研究，高分子材料的研究等；在物理方面，导体和半导体中传导电子、晶体的缺陷、激发态分子磁共振的光学检测等；在生物、医学方面，主要研究生物分子动态特性、活体组织和体液中的自由基，酶反应、光合成、金属键合部位的结构和识别、生物系统中的致癌反应。

E500是集合多种现代化电子顺磁共振技术的平台，是开展化学、物理学、材料科学以及生物学等研究的理想工具。用于自由基和顺磁性金属离子及其化合物的检测，从定性和定量方面检测物质原子或分子中所含的不配对电子，获得结构与成分信息。

管理人：李明辉黄青武 027-87792451-112 E2-102

41 EPMA-8050G电子探针显微分析仪EPMA

生产厂家：日本SHIMADZU公司

电子探针是目前微区成分分析最有效的工具之一，广泛应用于金属及合金、半导体、地质、化工、能源、环境、陶瓷、玻璃、稀土氧化物、高分子、生物、医学、考古、刑侦等各领域，可进行材料表面形貌和微观组织的观察，以及微区成分的定性及定量点分析、线分析、面分布图等分析，也可对轻元素以及含量较低的元素进行检测和分析。

EPMA-8050G电子探针配备高亮度肖特基场发射电子枪；具有二次电子、背散射电子、吸收电子及束流检测等多种信号检测器；搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪，同时配有EDAX Team Octane Super能谱仪附件。可进行样品的微观形貌和组织等图像观察，可实现样品表面微区成分的定性点分析、定量点分析、线分析和面分析等。 EPMA-8050G搭载先进的场发射电子光学系统和高性能X射线谱仪，具有卓越的空间分辨率和稳定的大束流，能够实现微区表面的超高分辨率和大束流超高灵敏度的面分析。

管理人：李明辉 027-87792451-8823 分析测试中心F2-115

仪器设备

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03 环境扫描电子显微镜ESEM

04 sirion场发射扫描电子显微镜 FSEM-1

05 nova场发射扫描电子显微镜 FSEM-2

06 Tecnai G2 20透射电子显微镜 TEM

07 Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜 FTEM-1

19 Stemi 508体视显微镜3D

20 Axiovert 200MAT金相显微镜200MAT

34 SPM9700原子力显微镜 AFM

37 E500电子顺磁共振波谱仪EPR

41 EPMA-8050G电子探针显微分析仪EPMA

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