68 JEM-ARM200F场发射透射电子显微镜（FTEM-4）
生产厂家：JEOL（日本）
广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域。
JEM-ARM200F是一台配备聚光镜球差矫正器的透射电子显微镜，可以获得原子级别分辨的BF-、ABF-、ADF-STEM图像。并配有超级双能谱仪系统，可进行成分分析；结合STEM，可进行点扫、线扫、面扫分析。配备Gatan OneView(Model 1095)相机，像素数目及大小可以达到4kx4kx15μm，并具有漂移校正功能。
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