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电镜及常规显微分析

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68 JEM-ARM200F场发射透射电子显微镜(FTEM-4)

JEM-ARM200F

生产厂家

JEOL(日本)

仪器介绍

JEM-ARM200F是一台配备聚光镜球差矫正器的透射电子显微镜,可以获得原子级别分辨的BF-、ABF-、ADF-STEM图像。并配有超级双能谱仪系统,可进行成分分析;结合STEM,可进行点扫、线扫、面扫分析。配备Gatan OneView(Model 1095)相机,像素数目及大小可以达到4kx4kx15μm,并具有漂移校正功能。


技术参数

TEM点分辨率:230pm(200kV);TEM线分辨率:100pm(200kV);TEM信息分辨率:120pm(200kV);STEM分辨率:78pm(200KV),110pm(80KV);

加速电压:80kV-200kV;

电子枪类型:冷场发射电子枪;

EDS能量分辨率:≤133 ev。


技术特点

主机系统:JEM-ARM200F透射电镜主机、增强型标准单倾样品杆、增强型双倾、增强型低背景双倾样品杆等部件;

一体化扫描透射(STEM):复合型高灵敏度高角环形暗场探测器(Perfect Sight HAADF)、高灵敏度明场探测器(Perfect Sight BF)、环形明场像探测器(ABF);

像分辨率:4K×4K;

超级双能谱仪系统:可伸缩式无窗型一体化电制冷型,探测器面积100mm2,配备2个;

相机类型:底装高速高分辨CMOS相机,Gatan OneView(Model 1095);像素数目及大小4kx4kx15μm;读取祯速25fps@4kx4k;配在线自动漂移校正功能。


应用范围

广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域。


投入日期:2024.09

管理人员:卢照安放地址:东十七楼分析测试中心F2-112

联系电话:027-87557452

友情链接:

生物冷冻电镜平台 精准医学测试中心 实验室和设备管理处 大仪开放共享服务系统

版权所有: 华中科技大学分析测试中心 

地址:武汉市洪山区珞喻路1037号华中科技大学分析测试中心 

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