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Nova NanoSEM 450
荷兰FEI公司
可实现固体样品的微观形貌观察和微区能谱成分分析及线分布、面分布分析；配备的背散射探头可获得样品的成分衬度图片；配备的低真空探头可对不导电样品进行形貌及成分分析，而不需要进行喷金处理。
高真空模式分辨率：1nm ( 15KV)；1.6 nm (1KV)
低真空模式分辨率：1.5nm（10kV，Helix探测器)，1.8nm（3kVHelix探测器)
标样放大倍数：40倍～40万倍
加速电压：加速电压 50V - 30kV，连续可调
倾斜角度：-10°～70°
样品台移动范围：X=Y=110mm
EDAX能谱能量分辨率126eV，成分范围B~U，束斑影响区1μm左右
超高强度Schottky场发射灯丝
SE、TLD探测器
低真空探测器
低真空高分辨探测器
背散射探测器
牛津X-Max 50电制冷能谱仪
CCD红外相机
广泛应用于物理、化学、生物、地学、矿物、金属、半导体、陶瓷、高分子、复合材料、纳米材料等领域的研究和产品检验。
投入日期：2012.10
管理人员：葛立发安放地址：分析测试中心E2-107
联系电话：027-87792451-107
