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Tecnai G2 F30
荷兰FEI公司
该仪器将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等)进行方便灵活地有机组合,形成了强大的分析功能,从而在同类型仪器中独占鳌头。除具有200KV的各种优点外,Tecnai G2 F30提供了300KV的加速电压,可分析更厚、更具挑战性的样品。同时,该仪器使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。
信息分辨率极限:0.14 nm
点分辨率:0.205 nm
线分辨率:0.102 nm
高分辨STEM分辨率:0.16 nm
样品最大倾角:(α) +/-40°;(β, 双倾样品杆) +/-30°
EDS能量分辨率:<136 ev
主机系统:Tecnai G2 F30 S-TWIN 透射电镜主机、单倾样品杆、低背景双倾样品杆等部件
一体化STEM系统:STEM硬件、扫描图像技术、高角环形暗场探测器(HAADF Detector)、明场/暗场探头(BF/DF Detector)
一体化能谱仪系统:Oxford能谱探头、能谱分析技术
广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域。
投入日期:2012.12
管理人员:赵健全安放地址:分析测试中心E2-105
联系电话:027-87792451-105