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电镜及常规显微分析

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07 Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜 FTEM-1

Tecnai G2 F30

生产厂家

荷兰FEI公司

仪器介绍

该仪器将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等)进行方便灵活地有机组合,形成了强大的分析功能,从而在同类型仪器中独占鳌头。除具有200KV的各种优点外,Tecnai G2 F30提供了300KV的加速电压,可分析更厚、更具挑战性的样品。同时,该仪器使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。


技术参数

信息分辨率极限:0.14 nm

点分辨率:0.205 nm

线分辨率:0.102 nm

高分辨STEM分辨率:0.16 nm

样品最大倾角:(α) +/-40°;(β, 双倾样品杆) +/-30°

EDS能量分辨率:<136 ev

技术特点

主机系统:Tecnai G2 F30 S-TWIN 透射电镜主机、单倾样品杆、低背景双倾样品杆等部件

一体化STEM系统:STEM硬件、扫描图像技术、高角环形暗场探测器(HAADF Detector)、明场/暗场探头(BF/DF Detector)

一体化能谱仪系统:Oxford能谱探头、能谱分析技术

应用范围

广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域。


投入日期:2012.12

管理人员:赵健全安放地址:分析测试中心E2-105

联系电话:027-87792451-105

友情链接:

生物冷冻电镜平台 精准医学测试中心 实验室和设备管理处 大仪开放共享服务系统

版权所有: 华中科技大学分析测试中心 

地址:武汉市洪山区珞喻路1037号华中科技大学分析测试中心 

电话:027-8755 7451    027-8779 2451    027-8779 3949

邮箱:hustatc@126.com