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电镜及常规显微分析

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04 sirion场发射扫描电子显微镜 FSEM-1

Sirion 200

生产厂家

荷兰FEI公司

仪器介绍

可实现固体样品的微观形貌观察和微区能谱成分分析及线分布、面分布分析,可对晶体样品的晶粒取向和取向关系等进行分析,还可以获取的电压下薄样品的明/暗场扫描透射像。超高强度Schottky场发射灯丝 SE、TLD探测器CCD。


技术参数

分辨率:1.5nm ( 10KV);2.5nm (1KV);3.5nm (500V)

标样放大倍数:40倍~40万倍

加速电压:200 V - 30 kV, 连续可调

倾斜角度:-10°~45°

EDAX能谱能量分辨率130eV,成分范围B~U

束斑影响区1μm左右 STEM附件可同时放置8个样品进行扫描透射观察,对低原子序数样品也可获得较好衬度的暗场像,特别适合高分子材料、生物材料的观察 OIM/EBSP分辨率达1300×1024以上,灰度4096,角度分辨率达0.5°以上,用来采集和分析扫描电镜中的电子背散射衍射花样,相鉴定数据库包揽七大晶系,功能十分强大

技术特点

超高强度Schottky场发射灯丝

SE、TLD探测器

CCD红外相机

EDAX能谱仪

取向成像电子显微分析系统(OMI/EBSP)

扫描透射附件

应用范围

广泛应用于物理、化学、生物、地学、矿物、金属、半导体、陶瓷、高分子、复合材料、纳米材料等领域的研究和产品检验。


投入日期:2004.5

管理人员:吴金金安放地址:分析测试中心E2-103

联系电话:027-87792451-103

友情链接:

生物冷冻电镜平台 精准医学测试中心 实验室和设备管理处 大仪开放共享服务系统

版权所有: 华中科技大学分析测试中心 

地址:武汉市洪山区珞喻路1037号华中科技大学分析测试中心 

电话:027-8755 7451    027-8779 2451    027-8779 3949

邮箱:hustatc@126.com