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EPMA-8050G
日本SHIMADZU公司
EPMA-8050G电子探针配备高亮度肖特基场发射电子枪;具有二次电子、背散射电子、吸收电子及束流检测等多种信号检测器;搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪,同时配有EDAX Team Octane Super能谱仪附件。可进行样品的微观形貌和组织等图像观察,可实现样品表面微区成分的定性点分析、定量点分析、线分析和面分析等。 EPMA-8050G搭载先进的场发射电子光学系统和高性能X射线谱仪,具有卓越的空间分辨率和稳定的大束流,能够实现微区表面的超高分辨率和大束流超高灵敏度的面分析。
二次电子像分辨率:≤ 3nm(加速电压30kV)
背散射电子像分辨率:≤ 20nm(成分像、拓扑像)
最大束流:≥3μA,以便对痕量元素进行精确定量分析
波谱仪道数:5道; 分光晶体:全聚焦型晶体
分析元素:4Be~92U
分析精度:优于1%(主元素:含量>5%)和5%(次要元素:含量~1%)
EDAX Team Octane Super能谱仪:能量分辨率优于127eV,分析成分范围4Be~98Cf
高亮度肖特基场发射电子枪,具有稳定的大束流
EPMA专用电子光学系统,无需更换物镜光阑
搭载5通道高性能4英寸X射线波谱仪,具有52.5°大取出角,4英寸罗兰圆半径兼顾高灵敏度与高分辨率
配备二次电子、背散射电子、吸收电子及电子束电流等多种信号检测器
EDAX Team Octane Super能谱仪
电子探针是目前微区成分分析最有效的工具之一,广泛应用于金属及合金、半导体、地质、化工、能源、环境、陶瓷、玻璃、稀土氧化物、高分子、生物、医学、考古、刑侦等各领域,可进行材料表面形貌和微观组织的观察,以及微区成分的定性及定量点分析、线分析、面分布图等分析,也可对轻元素以及含量较低的元素进行检测和分析。
投入日期:2017.01
管理人员:李明辉安放地址:分析测试中心F2-115
联系电话:027-87792451-8823