分析测试中心新购置法国Xenocs公司的Xeuss 3.0 UHR X射线超小角散射仪（简写SAXS）已完成初步安装，将于2024年03月28日正式开放运行，仪器预约编号64。
小角X射线散射（SAXS）是一种在纳米和介观尺度上获得材料结构信息的分析技术。SAXS测试几乎可以在所有样品上进行，最常用于软物质和纳米结构材料，测定散射体的形状、尺寸及其分布。适用于从液体到固体的多种形态，可以得到诸如纳米粒度分布、形貌、结晶、取向、比表面等纳米结构信息。可以在动态或可控的环境下对样品进行SAXS测量，例如温度、压力等，得到结构和功能或响应之间的关系。
可做小角X射线散射（SAXS）、广角X射线散射（WAXS）、掠入射（GISAXS）、原位变温（-150~350℃）、原位拉伸(张力范围0-200N)等实验。
技术参数：
X射线源：高亮度微焦斑固定靶点光源，双光源，靶材为Cu/Mo
准直系统：2组无散射狭缝，光斑大小0.15-1.5 mm，实时、连续、自动改变
样品台：1）通用样品台：25位固体自动进样器，15位粉末自动进样器，27位溶液胶体自动进样器，兼容真空和空气气氛环境测试；2）多自由度掠入射样品台：掠入射角Omega自动旋转范围-3°~5°；3）原位变温样品台：-150℃~350℃，精度：0.1℃；4）原位变温拉伸样品台：张力范围0~200N，拉伸速度0.1~5000μm/s，拉伸量程85mm，配变温模块温度范围-150℃~250℃；5）低噪声流动样品池；6）原位剪切样品台。
二维小角/广角探测器：二维硅阵列单光子计数探测器，最大计数率6.9×108phs/s/mm2，像素大小75×75μm2，单个探测器的工作面积75×75mm2，探测器到样品距离45 mm~4600 mm
可移动式广角探测器：二维硅阵列单光子计数探测器，2θ范围7°~90°
二维小角/广角数据采集功能：二维小角最小可测散射矢量：qmin(Cu)≤0.006 nm-1，qmin(Mo)≤0.03 nm-1，二维广角最大可测散射矢量：qmax(Cu)≥49 nm-1,
qmax(Mo)≥95 nm-1
技术特点：
Cu/Mo双靶高亮度微焦斑固定靶点光源
无散射狭缝准直系统
多功能样品台
二维小角/广角探测器，到样品最大距离4600 mm，最小可测散射矢量：qmin(Cu)≤0.006
nm-1，qmin(Mo)≤0.03
nm-1
可移动式广角探测器
应用范围：
纳米材料（形核生长、粒度与分布）；聚合物（结晶过程、外场诱导作用）；生物体系（蛋白形状、初级相位、生理环境）；医药体系（药理、界面）；其他体系（多尺度分级结构、天然/人工复合材料）
仪器预约：
校内用户：可在本中心预约系统中预约测试，预约系统中仪器编号为：64 Xeuss 3.0 小角X射线散射仪（SAXS）
校外用户：可联系业务室送样（027-87793939）
测试咨询：
样品制备和测试相关问题可与仪器主管老师联系。联系人：蔡运成，联系电话：027-87557451转203（仪器室）或204（办公室），邮箱：2864197666@qq.com
仪器地点：
东十七楼分析测试中心E2-203
