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Xradia 610 Versa
德国,卡尔蔡司
利用X射线穿透的原理,可以无损对复合材料内部结构的组份进行三维空间重构和切片表征,配置25 W的X射线源,并有两级系统采用几何放大+光学物镜两级放大的架构,可以满足对大样品进行局部高分辨率的成像需求。包含四种探测器模式可满足不同尺度以及材料性质的三维分析。
投入日期:2023.11
管理人员:江任之安放地址:分析测试中心E2-203
联系电话:027-87557451-203