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59 Xradia 610 Versa精密-X射线三维显微镜

Xradia 610 Versa

生产厂家

德国,卡尔蔡司

仪器介绍

利用X射线穿透的原理,可以无损对复合材料内部结构的组份进行三维空间重构和切片表征,配置25 W的X射线源,并有两级系统采用几何放大+光学物镜两级放大的架构,可以满足对大样品进行局部高分辨率的成像需求。包含四种探测器模式可满足不同尺度以及材料性质的三维分析。


技术参数
极限分辨率:最佳三维空间分辨率500nm@40X物镜(或超高分辨探测器下)中高分辨率:最佳三维空间分辨率900nm@20X物镜(或高分辨探测器下)X射线源距样品旋转轴50 mm时的空间分辨率:在40倍物镜(或超高分辨率)下,当X射线源距样品旋转轴50 mm时,最佳分辨率优于1.0 μm;最小可实现的体素:40nm。 配备以下多种样品座:针钳式样品座;夹钳式样品座;夹持式样品座;高铝基座样品座;高精度针钳式样品座。
技术特点
应用范围
可对各类复合材料(如碳纤维、水合物、海绵泡沫、高分子聚合物,薄膜材料)、生物组织(动物组织、植物组织)、金属材料、油气地质及半导体样品进行高分辨无损三维成像及组织表征。

投入日期:2023.11

管理人员:江任之安放地址:分析测试中心E2-203

联系电话:027-87557451-203

  • 附件【Xradia 610 Versa精密-X射线三维显微镜(高分辨科研CT)XRM.png】已下载次

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