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X射线分析

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12 AXIS-ULTRA DLD-600W X射线光电子能谱仪(XPS-1)

AXIS-ULTRA DLD-600W

生产厂家

日本岛津-Kratos公司

仪器介绍

AXIS-ULTRA DLD光电子能谱仪配备有多个国际标准窗口的样品处理室,功能强大且扩展性强,配有多样品停放台,大幅提高测试效率。样品处理室、分析室均配有冷热台,满足多层次测试需求。样品分析室配备UPS、AES、ISS等信...


技术参数

大束斑slot模式下能量分辨率:优于0.48 eV/(Ag 3d5/2)@400 kcps

最小15μm分析区域下能量分辨率:优于0.50 eV/(Ag 3d5/2)@0.65 kcps

110μm分析区域下能量分辨率:优于0.50 eV/(Ag 3d5/2)@75 kcps

荷电中和系统:优于0.68 eV/(PET上O-C=O的C 1s)@15 kcps

空间分辨率:优于3 μm

技术特点

紫外光电子能谱仪UPS

俄歇电子能谱仪AES

离子散射谱ISS

双阳极Al/Mg靶

低能悬浮离子枪

真空断裂台

分析室冷热台等

应用范围

主要用于各种有机和无机固体材料的表面元素和其价态的定性、定量分析,表面元素的化学成像及深度剖析。可用于腐蚀、摩擦、浸润、粘接、催化、包覆、氧化等表面和界面过程的研究。


投入日期:2012.12

管理人员:黄青武安放地址:分析测试中心E2-100

联系电话:027-87792451-100

友情链接:

生物冷冻电镜平台 精准医学测试中心 实验室和设备管理处 大仪开放共享服务系统

版权所有: 华中科技大学分析测试中心 

地址:武汉市洪山区珞喻路1037号华中科技大学分析测试中心 

电话:027-8755 7451    027-8779 2451    027-8779 3949

邮箱:hustatc@126.com