当前位置： 首页 - 仪器设备 - X射线分析 - 正文
x’pert pro MPD
荷兰帕纳科公司PANalytical B.V.（原飞利浦分析仪器）
X'Pert PRO X射线衍射仪采用陶瓷χ光管、DOPS直接光学定位传感器精确定位和最优化的控制台及新型窗口软件。采用模块化设计，可针对不同的要求采用最优的光学系统，从而得到最佳的实验数据，达到最高的实验效率。高、...
X射线发生器: 最大功率：3KW； 最大管压：60KV； 最大管流：60mA；
陶瓷X光管： 最大功率：2.2KW（Cu靶） 最大管压：60KV； 最大管流：55mA；
测角仪： 扫描方式：θ/θ或2θ/θ；
模式角度重现性：±0.0001°(空载)；
探测器： 正比探测器：99%； 线性范围：1×106cps，最大背景≤0.2cps ；
半导体阵列探测器：最大计数率4×106cps，99%线性范围1×106cps，最大背景≤0.1cps
高、低温附件（室温至1600°；-193°~450°）
薄膜附件
广泛应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鉴定，材料可以是单晶体、多晶体、纤维、薄膜等片状、块状、粉末状固体。
投入日期：2004.5
管理人员：江任之安放地址：分析测试中心E2-203
联系电话：027-87557451-203
