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AXIS SUPRA+
日本岛津-Kratos公司
AXIS SUPRA+光电子能谱仪配备有多个国际标准窗口的样品处理室，功能强大且扩展性强，配有多样品停放台，大幅提高测试效率。样品分析室配备UPS、ISS等信号分析器，多角度获取样品信息。样品分析室配备团簇型离子枪、低...
常规能量分辨率和灵敏度：对Ag 3d5/2峰，半峰宽≤0.45 eV时，峰强度≥180kcps；
Ag靶的最佳分辨率和灵敏度：0.9eV@5kcps；
荷电中和系统：对PET绝缘样品，O-C=O结构中C1s峰的半峰宽≤ 0.68 eV时，C-C结构中C1s峰的峰强度≥ 20kcps；
空间成像分辨率：化学状态的成像空间分辨率小于1µm。
1 配备单色化Al靶射线源，靶点可自动更换。
2 多通道板（MCP）和双层128通道的二维阵列延迟线检测器，可同时获取光电子的位置和强度，从而实现“从图得谱”。
3 “快照采谱（Snap Shot）”模式，在十数秒内即可获取完整的光电子能谱图，极大提高分析效率。
4 “从图得谱”模式采谱，无需重复测试，即可从XPS成像中获取光电子能谱。
主要用于各种有机和无机固体材料的表面元素和其价态的定性、定量分析，表面元素的化学成像及深度剖析。可用于腐蚀、摩擦、浸润、粘接、催化、包覆、氧化等表面和界面过程的研究。
投入日期：2020-07
管理人员：周芃安放地址：分析测试中心E2-114
联系电话：027-87792451-114
