X射线源：高亮度微焦斑固定靶点光源，双光源，靶材为Cu/Mo
准直系统：2组无散射狭缝，光斑大小0.15-1.5 mm，实时、连续、自动改变
样品台：1）通用样品台：25位固体自动进样器，15位粉末自动进样器，27位溶液胶体自动进样器，兼容真空和空气气氛环境测试；2）多自由度掠入射样品台：掠入射角Omega自动旋转范围-3°~5°；3）原位变温样品台：-150℃~350℃，精度：0.1℃；4）原位变温拉伸样品台：张力范围0~200N，拉伸速度0.1~5000μm/s，拉伸量程85 mm，配变温模块温度范围-150℃~250℃；5）低噪声流动样品池；6）原位剪切样品台
二维小角/广角探测器：二维硅阵列单光子计数探测器，最大计数率6.9×108 phs/s/mm2，像素大小75×75 μm2，单个探测器的工作面积75×75 mm2，探测器到样品距离45 mm~4600 mm
可移动式广角探测器：二维硅阵列单光子计数探测器，2θ范围7°~90°
二维小角/广角数据采集功能：二维小角最小可测散射矢量：qmin(Cu)≤0.006 nm-1，qmin(Mo)≤0.03 nm-1，二维广角最大可测散射矢量：qmax(Cu)≥49 nm-1, qmax(Mo)≥95 nm-1
