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Talos F200X
荷兰FEI公司
Talos F200X场发射透射电镜的电子枪为肖特基热场发射超亮电子枪,STEM 分辨率可以达到0.16nm。配备4个SDD探头的超级能谱集成到了透射电镜的极靴里面,对称地放在样品的上方,可以高效率探测到元素在一维,二维,甚至三维空间的分布信息。Talos F200X还安装了STEM明场和暗场探头,可以同时得到STEM的明场像和暗场像。 该仪器仅适用于非磁性的粉体样品和FIB薄膜样品,不接任何含磁性元素的样品。
加速电压: 200 KV
电子枪:肖特基热场发射超亮电子枪
信息分辨率极限:0.12 nm
点分辨率:0.25 nm
STEM信息分辨率:0.16 nm
EDS能量分辨率:140 ev
元素检测范围:B~U元素
主机系统:Talos F200X 透射电镜主机、单倾样品杆、高角度低背景双倾样品杆、三维重构样品杆等部件;
一体化STEM系统:STEM硬件、扫描图像技术、高角环形暗场探测器(HAADF Detector)、明场/暗场探头(BF/DF Detector);
一体化能谱仪系统:Super-X 四探头能谱、能谱分析技术;
三维重构系统:形貌三维、成分三维。
广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域。
投入日期:2018.1
管理人员:陈霞安放地址:分析测试中心E2-111
联系电话:027-87557452