• 收藏本站
  • English
  • 首页
  • 中心概况
    1. 中心介绍
    2. 机构设置
    3. 人员信息
  • 通知公告
  • 仪器设备
    1. 电镜及常规显微分析
    2. 光谱分析
    3. 核磁/色谱/质谱分析
    4. 热分析
    5. 元素(成分)分析
    6. X射线分析
  • 预约系统
  • 虚仿培训
  • 服务指南
    1. 测试流程
    2. 测试须知
    3. 收费标准
    4. 缴费指南
    5. 资源下载
  • 资质认定
    1. 中心资质
  • 党建工作
    1. 支部设置
    2. 理论学习
    3. 支部活动
  • 联系我们
  • 首页
  • 中心概况
    • 返回
    • 中心介绍
    • 机构设置
    • 人员信息
      • 返回
      • 管理岗
      • 业务室
      • 办公室
      • 透射电镜组
      • 扫描电镜组
      • X射线分析组
      • 热分析组
      • 化学分析组
  • 通知公告
  • 仪器设备
    • 返回
    • 电镜及常规显微分析
    • 光谱分析
    • 核磁/色谱/质谱分析
    • 热分析
    • 元素(成分)分析
    • X射线分析
  • 预约系统
  • 虚仿培训
  • 服务指南
    • 返回
    • 测试流程
    • 测试须知
    • 收费标准
    • 缴费指南
    • 资源下载
  • 资质认定
    • 返回
    • 中心资质
  • 党建工作
    • 返回
    • 支部设置
    • 理论学习
    • 支部活动
  • 联系我们

仪器设备

  • 电镜及常规显微分析
  • 光谱分析
  • 核磁/色谱/质谱分析
  • 热分析
  • 元素(成分)分析
  • X射线分析

电镜及常规显微分析

当前位置: 首页  -  仪器设备  -  电镜及常规显微分析  -  正文

44 Talos F200X场发射透射电子显微镜FTEM-2

Talos F200X

生产厂家

荷兰FEI公司

仪器介绍

Talos F200X场发射透射电镜的电子枪为肖特基热场发射超亮电子枪,STEM 分辨率可以达到0.16nm。配备4个SDD探头的超级能谱集成到了透射电镜的极靴里面,对称地放在样品的上方,可以高效率探测到元素在一维,二维,甚至三维空间的分布信息。Talos F200X还安装了STEM明场和暗场探头,可以同时得到STEM的明场像和暗场像。 该仪器仅适用于非磁性的粉体样品和FIB薄膜样品,不接任何含磁性元素的样品。


技术参数

加速电压: 200 KV

电子枪:肖特基热场发射超亮电子枪

信息分辨率极限:0.12 nm

点分辨率:0.25 nm

STEM信息分辨率:0.16 nm

EDS能量分辨率:140 ev

元素检测范围:B~U元素

技术特点

主机系统:Talos F200X 透射电镜主机、单倾样品杆、高角度低背景双倾样品杆、三维重构样品杆等部件;

一体化STEM系统:STEM硬件、扫描图像技术、高角环形暗场探测器(HAADF Detector)、明场/暗场探头(BF/DF Detector);

一体化能谱仪系统:Super-X 四探头能谱、能谱分析技术;

三维重构系统:形貌三维、成分三维。

应用范围

广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域。


投入日期:2018.1

管理人员:陈霞安放地址:分析测试中心E2-111

联系电话:027-87557452

友情链接:

生物冷冻电镜平台 精准医学测试中心 实验室和设备管理处 大仪开放共享服务系统

版权所有: 华中科技大学分析测试中心 

地址:武汉市洪山区珞喻路1037号华中科技大学分析测试中心 

电话:027-8755 7451    027-8779 2451    027-8779 3949

邮箱:hustatc@126.com