53 Gatan PIPS II 695 精密离子减薄仪（695）

采用聚焦离子束制备金属、陶瓷、薄膜、复合材料、颗粒等各种材料的透射电镜试样（包括截面样品），薄区面积大、损伤小。X-Y可调样品台。能对减薄样品进行精确定位，可对样品感兴趣区域进行对中重复减薄。配备的数码变焦显微镜系统可以实时监测减薄过程，同时可将获取的彩色图像存储于DM软件中，用于与样品在TEM中成像对比。液氮冷台：有效的保护样品，避免离子束热损伤，消除可能的假象。