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Titan G2 60-300
美国FEI公司
该仪器属于当今较先进的300kV球差校正透射电镜，将各种透射电镜技术（包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等）进行方便灵活地有机组合，形成了较为强大的分析功能。 备注：设备在维护阶段，当前对外服务HRTEM、STEM、SAED和EDS测试。
信息分辨率极限: 0.12 nm
点分辨率：0.21 nm
线分辨率: 0.102 nm
高分辨STEM分辨率: 0.2 nm
样品最大倾角：(α) +/-40o；(β, 双倾样品杆) +/-30o
EDS能量分辨率：＜136 eV
主机系统：Titan G2 60-300透射电镜主机、单倾样品杆、低背景双倾样品杆等部件
一体化STEM系统：STEM硬件、扫描图像技术、高角环形暗场探测器（HAADF Detector）、明场/暗场探头（BF/DF Detector）
一体化能谱仪系统：EDAX能谱探头、能谱分析技术
Titan G2 60-300 是适用于二维和三维材料表征和化学分析的场发射透射微镜，具备宽的加速电压范围 (60-300 kV)，结合Cs校正，分辨率可达原子级别。广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域。
投入日期：2010.07
管理人员：曾红霞安放地址：分析测试中心F2-108
联系电话：027-87557451-210
