仪器名称：场发射透射电子显微镜(JEM-ARM200F)
试运行时间：2024.10.08
开放时间：周二至周四08:00-11:30 14:00-17:00
预约系统内仪器编号：68
设备简介：
1.仪器介绍：JEM-ARM200F是一台配备聚光镜球差矫正器的透射电子显微镜，可以获得原子级别分辨的BF-、ABF-、ADF-STEM图像。并配有超级双能谱仪系统，可进行成分分析；结合STEM，可进行点扫、线扫、面扫分析。配备Gatan OneView(Model 1095)相机，像素数目及大小可以达到4K*4K*15μm，并具有漂移校正功能。
2.技术参数
2.1.TEM点分辨率:230pm(200kV)；TEM线分辨率:100pm(200kV)；TEM信息分辨率:120pm(200kV)；STEM分辨率:78pm(200KV)，110pm(80KV)；
2.2.加速电压：80kV, 200kV；
2.3.电子枪类型：冷场发射电子枪
3.联系方式
业务室电话：027-87793939
机组老师：卢照，电话：027-87557451-101
试运行期间敬请持续关注华中科技大学分析测试中心官网/公众号有关该仪器设备的最新通知。
