2026年3月17日，由华中科技大学分析测试中心与牛津仪器联合举办的“牛津仪器AFM技术和应用研讨会（武汉站）”在分析测试中心二楼E2-205会议室顺利召开。本次研讨会旨在分享原子力显微镜（AFM）领域的最新技术进展，促进科研交流。
会议于上午9:00正式开始，华中科技大学分析测试中心丁雨葵主任致开幕辞，对参会师生和牛津仪器专家团队表示热烈欢迎。随后，牛津仪器刘宇先生介绍了公司的发展历程与技术优势，为在场师生呈现了牛津仪器在显微成像领域的技术积淀与创新成果。
在学术报告环节，华中科技大学马永铭博士以《可印刷介观钙钛矿太阳能电池吸光层优化研究》为主题，为大家带来了精彩的学术报告，展示了其在新能源材料领域的最新研究成果。牛津仪器竺仁先生、连叶女士分别围绕“干涉式AFM在高分辨成像和铁电压电材料研究中的应用”和“Jupiter DS优势及其在半导体领域中的应用”进行了深入讲解，内容涵盖AFM在多个前沿研究方向的实用案例与技术突破。
会议期间还设置了互动交流与实验室参观环节，参会师生近距离观摩了分析测试中心配备的牛津仪器Jupiter XR大样品原子力显微镜，进一步了解了该设备在高通量、高精度表征方面的实际应用。
本次研讨会不仅为校内外科研人员提供了一个深入了解AFM前沿技术的机会，也促进了校企之间的技术交流与合作。未来，华中科技大学分析测试中心将继续携手国内外知名仪器公司，打造高水平科研支撑平台，助力学校“双一流”建设和高水平科研成果产出。
