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场发射透射电子显微镜

   

产品型号:Tecnai G2 F30

生产厂家:荷兰FEI公司

仪器介绍:Tecnai G2 F30 是一台真正多功能、多用户环境的场发射透射电子显微镜。该仪器将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等)进行方便灵活地有机组合,形成了强大的分析功能,从而在同类型仪器中独占鳌头。除具有200KV的各种优点外,Tecnai G2 F30提供了300KV的加速电压,可分析更厚、更具挑战性的样品。同时,该仪器使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。

主要附件

  • 主机系统:Tecnai G2 F30 S-TWIN 透射电镜主机、单倾样品杆、低背景双倾样品杆等部件;
  • 一体化STEM系统:STEM硬件、扫描图像技术、高角环形暗场探测器(HAADF Detector)、明场/暗场探头(BF/DF Detector);
  • 一体化能谱仪系统:Oxford能谱探头、能谱分析技术;
  • 一体化GIF系统:EFTEM&EELS。

技术参数:

  • 信息分辨率极限:0.14 nm
  • 点分辨率:0.205 nm 线分辨率:0.102 nm
  • 高分辨STEM分辨率:0.16 nm
  • 样品最大倾角:(α) +/-40o;(β, 双倾样品杆) +/-30o
  • EDS能量分辨率:<136 ev
  • GIF系统能量分辨率:≤0.7 ev(Extr≤3 KV);≤1.0 ev(Extr=4 KV)

应用范围:广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域。

         

投入日期 2012.12 安放地址 分析测试中心E2-105
管理人员 赵健全、陈霞 电   话 027-87792451-620